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表面分析:SIMS 二次イオン質量分析(SIMS) | 表面分析 | 分析機能と原理 | 技術情報の詳細情報

二次イオン質量分析(SIMS) | 表面分析 | 分析機能と原理 | 技術情報。ガラス上付着物のTOF-SIMS定性分析。GCIB-TOF-SIMSによる 光学フィルム表面処理層の定性分析。二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。。ガラス上付着物のTOF-SIMS定性分析。- タイトル: 表面分析:SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。GrapeSeed Unit18。TAC 所得税法 上級テキスト NO.1 & トレーニング NO.1。そのまま付けて発送予定です。鉄緑会化学受験講座 入試化学演習 ノート解答付き。文部科学省指導要領準拠。中身は美品だと思います。赤本セット
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